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原裝美國(guó)Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀

更新時(shí)間:2024-09-26

簡(jiǎn)要描述:

原裝美國(guó)Filmetrics F10-RT薄膜分析儀 包含的內(nèi)容:
集成光譜儀/光源裝置
FILMeasure 8 軟件
FILMeasure 獨(dú)立軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)
CP-1-1.3 探頭
BK7 參考材料
整平濾波器 (用于高反射基板)
備用燈
額外的好處:
原裝美國(guó)Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀

產(chǎn)品廠地:北京市點(diǎn)擊量:925
品牌其他品牌應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,化工

原裝美國(guó)Filmetrics F10-RT薄膜分析儀 

 原裝美國(guó)Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀

F10-AR

 

易于使用而且經(jīng)濟(jì)有效地分析減反涂層和鏡頭上的硬涂層

F10-AR 是為簡(jiǎn)便而經(jīng)濟(jì)有效地測(cè)試眼科減反涂層設(shè)計(jì)的臺(tái)儀器。 雖然價(jià)格大大低于當(dāng)今絕大多數(shù)同類儀器,應(yīng)用幾項(xiàng)*進(jìn)技術(shù), F10-AR 使線上操作人員經(jīng)過(guò)幾分鐘的培訓(xùn),就可以進(jìn)行厚度測(cè)量。

在用戶定義的任何波長(zhǎng)范圍內(nèi)都能進(jìn)行和平均反射測(cè)試。

 

 

我們有專門(mén)的算法對(duì)硬涂層的局部反射失真進(jìn)行校正。 我們*的 AutoBaseline 能地增加基線間隔,提供比其它光纖探頭反射儀高出五倍的度。

利用可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級(jí)能測(cè)量 0.25-15um 的硬涂層厚度。 在減反層存在的情況下也能對(duì)硬涂層厚度進(jìn)行測(cè)量。

無(wú)須處理涂層背面 原裝美國(guó)Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀

我們的探頭設(shè)計(jì)能抑制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射,使用更厚的鏡頭抑制的更多。

就像我們所有的臺(tái)式儀器一樣,F(xiàn)10-AR 需要連接到您裝有 Windows 計(jì)算機(jī)的 USB 端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)即可完成設(shè)定。

原裝美國(guó)Filmetrics F10-RT薄膜分析儀 

 

包含的內(nèi)容:

  • 集成光譜儀/光源裝置
  • FILMeasure 8 軟件
  • FILMeasure 獨(dú)立軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)
  • CP-1-1.3 探頭
  • BK7 參考材料
  • 整平濾波器 (用于高反射基板)
  • 備用燈

額外的好處:

  • 每臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)建超過(guò)130種材料庫(kù), 隨著不同應(yīng)用更超過(guò)數(shù)百種
  • 應(yīng)用工程師可立刻提供幫助(周一 - 周五)
  • 網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))
  • 硬件升級(jí)計(jì)劃

 

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